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產(chǎn)品詳細(xì)

特點(diǎn):


高性能電子光學(xué)系統(tǒng)

二次電子分辨率: 頂位二次電子探測(cè)器(2.0 nm at 1kV)*

高靈敏度: 高效PD-BSD, 超強(qiáng)的低加速電壓性能,低至100 V成像

大束流(>200 nA): 便于高效微區(qū)分析


性能優(yōu)異

壓力可變: 具有優(yōu)異的低真空(10 -300 Pa)成像性能,配備高靈敏度低真空探測(cè)器(UVD)*

開倉(cāng)室快速簡(jiǎn)單換樣(最大樣品尺寸: Φ 200 mm x 80 mmH)

微區(qū)分析: EDS, WDS, EBSD等等

*:選配附件


規(guī)格:


項(xiàng)目 內(nèi)容
分辨率 1.2 nm @ 30 kV
3.0 nm @ 1 kV
2.0 nm @ 1 kV 減速模式*1
3.0 nm @ 15 kV 低真空模式*2
放大倍率 10 - 600,000× (底片倍率), 18 - 1,000,000× (800 × 600 像素)
30 - 1,500,000× (1,280 × 960 像素)
電子光學(xué)系統(tǒng) 電子槍 ZrO /W 肖特基式電子槍
加速電壓 0.5 - 30 kV (0.1 kV 步進(jìn))
著陸電壓 減速模式: 0.1 - 2.0 kV *1
最大束流 > 200 nA
探測(cè)器 低位二次電子探測(cè)器
低真空模式*2 真空范圍: 10 - 300 Pa
馬達(dá)臺(tái) 馬達(dá)臺(tái)控制 5 - 軸自動(dòng) (優(yōu)中心)
可動(dòng)范圍 X:0~100mm
Y:0~50mm
Z:3~65mm
T:-20~90°
R:360°
最大樣品尺寸 最大直徑: 200 mm
最大高度: 80 mm
選配探測(cè)器
  • 高分辨率頂位二次電子探測(cè)器*1
  • 高靈敏度低真空探測(cè)器 (UVD)
  • 5分割半導(dǎo)體探測(cè)器 (PD-BSD)*3
  • 能譜儀 (EDS)
  • 波譜儀 (WDS)
  • 背散射電子衍射探測(cè)器 (EBSD)


*1:減速功能(包含高分辨率頂位二次電子探測(cè)器)

*2:低真空功能(包含5分割半導(dǎo)體探測(cè)器)

*3:空壓機(jī)(本地采購(gòu))



應(yīng)用實(shí)例




樣品:氧化鋅粉末

著陸電壓: 1 kV ; 倍率: 120,000x

低電壓下頂位二次電子探測(cè)器成像

樣品:PTFE

加速電壓: 3 kV ; 倍率: 13,000x

UVD探測(cè)器可在低加速電壓(3 kV)和低真空

(40 Pa) 下獲得高質(zhì)量圖像