FISCHER X-ray熒光光譜儀介紹：

無論是高精度鍍層厚度測量或是精確材料成分分析，F(xiàn)ISCHER眾多系列的X-ray熒光光譜儀可以為任何應用提供理想儀器選擇。除了擁有很多的創(chuàng)新和**之外，F(xiàn)ISCHER-SCOPE X-RAY產(chǎn)品線還具備近30年的經(jīng)驗，并且仍在不斷的發(fā)展中，確定細小結構和大型工件上的單一或復合鍍層、RoHS要求的痕量分析、測試珠寶和黃金或在連續(xù)生產(chǎn)線上在線測量，F(xiàn)ISCHERSCOPE X-RAY儀器完全滿足實驗室和生產(chǎn)要求。XAN® 系列儀器特別適合測量和分析超薄鍍層，即使鍍層成分復雜或含量微小也都能準確測量。該系列產(chǎn)品簡單易用且性價比高，因此在同類產(chǎn)品中脫穎而出。

FISCHERSCOPE® X-RAY XAN®

界面友好的XAN型儀器十分適用于生產(chǎn)業(yè)務和研發(fā)領域中的材料分析測試。專門為黃金珠寶業(yè)設計的XAN型儀器，可用于快速、無損測量產(chǎn)品真?zhèn)危蚀_確定實際的金含量。對于黃金及貴金屬合金的詳盡分析快速而直接。

XAN 310/315 XAN 220:專門從事金合金的成本效益分析。只有一個固定孔徑和一個固定濾光片；因此特別適合貴金屬分析。Xan儀器有不同的檢測器，使其滿足客戶從很少的元素到更復雜的多元素分析的需求。

XAN 250：配備了硅漂移探測器后，XAN250型儀器能分析薄鍍層，復雜合金及粉末、液體及塵埃的成分，這也是它為什么廣受實驗室、測試機構及貴金屬冶煉廠、海關檢驗等機構歡迎的原因。儀器出色的重復精度，可以與灰吹法相媲美。

特性：

    ? 操作簡單且性價比高。

    ? 自下而上進行測量，從而快速、簡便地定位樣品

    ? 廣泛適用：為各個行業(yè)的典型需求量身定制了多種型號

    ? 以非破壞性方式進行鍍層厚度測量與元素分析

    ? 帶有高性能 X 射線管和高靈敏度的硅漂移探測器 (SDD)的機型，可對薄鍍層及微量成分進行精確測量

應用：

    ? 鍍層厚度測量

    ? 厚度僅為幾納米的貴金屬鍍層

    ? 時尚首飾：對代鎳鍍層等新工藝多鍍層系統(tǒng)進行分析

    ? 抗磨損鍍層，如：對化學鎳鍍層的厚度及磷含量進行測量

    ? 測試納米級基礎金屬化層（凸點下金屬化層，UBM）

材料分析：

    ? 測定黃金首飾等貴金屬、手表和硬幣的成分與純度

    ? 專業(yè)實驗室、檢測機構以及科研院校中常規(guī)材料分析

    ? 依據(jù) RoHS、WEEE、CPSIA 以及其他準則，檢測電子元件、包裝以及消費品中不合要求的物質(zhì)（例如重金屬）

    ? 功能性鍍層的成分，如測定化學鎳中的磷含量